OD 原理

OD = -log(T) OD ~ AL 鋁 thickness        OD Beer's law. 超連結

 

功用 （為何使用艾恩迪的OD 監控系統）

• OD-10 是設計來量測鍍在塑膠膜或是玻璃上的膜層厚度均勻及光學密度值的制程監控設備. 檢測試使用光學方式去量測度膜厚的穿透率, 但厚度並非直接以nm顯示, 而是以光學密度值 OD做顯示. 客戶在經由工廠經驗去換算成厚度.

• 檢測點的大小是5mm. 可以一個檢測頭貼著一個檢測頭的方式去安裝. 最小兩個檢測頭的間距僅需 70mm. 上下檢測頭中間的間隙僅需27mm, 這可以達到客戶全面寬度監控鍍膜均勻度的要求.

• 量測的OD 直可由 0~4.00 OD 如有 5.00 的需求也可選購.

• 線上光密度值及厚度監控系統, 提供塑膠膜蒸鍍良好的品質監控. 可測量至OD 4.0 的光密度值及穿透率.

• 即時的將光學密度值轉換為實際厚度, (依照AIMCAL 'Metallizing Technical Reference'效正程序執行) 準確度高.

• 高速資料傳輸量.

• 自動效正, 自動等級分類, 免除外界得雜散光及雜訊影響.

• 即時同時顯示光學密度值及鍍膜厚度. 輸出訊號及警告

• 連續式的時間格式 依據膜的位置作及時間控回饋.

• 長時間測試結果紀錄, 警報,　並可輕易將資料轉換成可輕易讀寫的 Excel 檔案

• 簡單具有彈性的硬體裝置及設定. 檢測頭位置及裝置量數都可輕易的裝置於各種寬度的膜上.

• Roll to Roll ?膜生產中最擔心的就是?膜均勻度的問題. 如果沒有直接在真空內監控鍍膜均勻度, 如遇到中間一個鎢舟有問題. 無法度上均勻的膜層. 在每分鐘 4~500 米的速度下. 僅需半個小時就可報廢一卷昂貴的底材及蒸鍍鋁材. 最重要的是工時的損失. 因為打開真空在抽至真空也需花上另外一個半小時. 這時發現所生產材料是捲廢材時成本無法估計. 最重要的是蒸鍍制程常有不穩. 是無法在線外樣本檢測時發現. 但如果線上是可即時發現的.

• 線上監控鍍鋁制程是最及時的.

光密度監控器可以和真空鍍膜機聯線使用，監控薄膜的光密度、透明度。這樣在進行鍍膜工藝時就無需因為薄膜類型的改變而切換監控系統。這不僅減少了停工時間，同時增進了生產品質和加工延續性。該裝置精確度高，且應用範圍極廣，不僅適用於各類新型鍍膜機，還能和一些老機型一起聯用。它對於鍍膜機和塗布機而言都是好幫手，因為它測量不同光學特性無需切換監控器

紅外線光源穿過待測材料, 鍍在底材上的金屬層吸收了一部份的穿透光線. 材料會因光學密度值不同而有不同的吸收率.經由光學檢測頭接收穿過的光線後加以計算成密度值

檢測設備可以安裝 1~99 個檢測統. 每一個檢測系統包含了光源，接收感測器及電源供應器. 光源及接收感應器裝置在一個常形鋁架, 光源與接收端僅需27mm 的空隙

在檢測器內已包含了微處理器. 檢測系統可以用在真空內, 顯示介面安裝在外部. 接點經由serial interface 連結. 所以在真空外殼上僅需非常少的接口. 設計尚可輕易的更換檢測頭. 裝機也僅需固定在真空內牆壁即可.